Carte d'évaluation GaN en demi-pont EPC9201

La carte de développement d'EPC est destinée à une évaluation comparative avec une basse température ambiante et un refroidissement par convection

Image de la carte d'évaluation GaN en demi-pont EPC9201 d'EPCLa carte de développement d'EPC, qui mesure 11 mm x 12 mm, contient deux transistors à effet de champ (FET) à mode d'enrichissement (eGaN®) organisés en configuration en demi-pont avec un circuit d'attaque de grille intégré LM5113 de Texas Instruments. L'objectif de ces cartes de développement est de simplifier le processus d'évaluation en optimisant la configuration et en incluant tous les composants stratégiques sur une seule carte pouvant être facilement connectée à tout convertisseur existant.

L'ajout de refroidissement à air forcé et de dissipation thermique permet d'améliorer considérablement le courant nominal de ces dispositifs, mais il faut veiller à ne pas dépasser la température absolue maximale de la puce de 150°C.

Applications Avantages
  • Conversion CC/CC haute vitesse
  • Audio classe D
  • Circuits haute fréquence et commutés
  • Rendement ultra-élevé
  • Résistance RDS(ON) ultrafaible
  • Charge de grille QG ultrafaible
  • Empreinte ultracompacte

EPC9201 GaN Half Bridge Eval Board

ImageRéférence fabricantDescriptionEmbarquéCircuit intégré/composant utiliséQuantité disponiblePrix
EVAL BOARD FOR EPC2015EPC9201EVAL BOARD FOR EPC2015NonEPC20150 - ImmédiatementSee Page for PricingAfficher les détails
Date de publication : 2015-05-08