Les points de test CMS simplifient le processus de test des cartes CI

Tester des cartes à circuit imprimé particulièrement denses se révèle être un processus délicat. L'utilisation de sondes de transitoires à insérer dans un rail existant peut endommager ce dernier ; et le recours à des clips ou des crochets à verrouiller sur la partie arrière d'un composant peut entraîner des dommages à ce composant. Dans les deux cas, cela peut se traduire par des résultats de test incohérents, étant donné que les différents ingénieurs peuvent choisir des points différents pour effectuer les relevés de test.

Les points de test à montage traversant présentent une certaine hauteur. L'ajout d'un morceau de fil de fer courbé ou d'une languette estampée présentant un trou dans sa partie supérieure est synonyme d'opération de soudure supplémentaire, ce qui peut entraîner des problèmes de conception sur une carte CI qui serait sinon extra-plate.

Les points de test CMS de Harwin sont auto-positionnables sur les cartes CI, ce qui réduit les coûts d'installation. Ils sont disponibles en trois tailles : S1751-46R, le plus grand format, adapté aux crochets et aux clips de test standard ; S2751-46R avec une empreinte métrique 2012 (impériale 0805), convenant aux micro-clips de test ; et S2761-46R avec une empreinte métrique 1608 (impériale 0603), également adapté aux micro-clips de test.

Ces composants sont des cibles spécifiques pour les ingénieurs de test, car ils permettent une installation à clipser et rendent possible un test mains libres. Les points de test sont également d'une efficacité sacrificielle. Tous les dommages qu'ils subissent au cours d'un test n'affectent en rien la fonction finale de la carte CI, car il s'agit d'éléments de circuit supplémentaires.

Applications

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